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産業財産権
- タイトル
- 検査用チップおよび検査装置
- タイトル（英）
- 発明者/考案者/創作者
- 中嶋 秀,山本 将史,石井 領,廣瀬 颯太,武田 知大,安井 文彦,山本 直樹,森岡 和大,辺見 彰秀
- 発明者/考案者/創作者（英）
- 出願番号
- 特願2026- 54701
- 出願年月
- 2026年3月27日
- 公開番号
- 公開年月
- 公表番号
- 公表年月
- 特許番号/登録番号
- 登録年月
- 概要
- 概要（英）
- 権利者
- 権利者（英）
- 参照URL
- https://researchmap.jp/yamamoto-nk/industrial_property_rights/53587745
研究者
山本 直樹
(ヤマモト ナオキ)